美国SEI RENGER EXP外置探头射线检测仪

美国SEI RENGER EXP外置探头射线检测仪常用于：
1.检查局部的辐射泄露和核辐射污染；
2.检查周围环境的氡辐射；
3.检查石材等建筑材料的放射性；                                                                  
4.检查有核辐射危险的填埋地和垃圾场；                                                                  
5.检测从医用到工业用的X射线仪器的X射线辐射强度；                                              
6.检查地下水镭污染；                                                                                    
7.检查地下钻管和设备的放射性；                                                                      
8.监视核反应堆周围空气和水质的污染；                                                              
9.检查个人的贵重财产和珠宝的有害辐射；                                                            
10.检查瓷器餐具玻璃杯等的放射性；                                                                
11.精确定位辐射源；                                                                                  
12.家居装饰的检测。                                                                                    

美国SEI RENGER EXP外置探头射线检测仪技术性能与特点：

1、四位液晶显示
2、检测α、β、γ和X射线
3、计数测量、总计数测量和剂量率测量
4、1分-24小时定时测量
5、响应能量：20Kev（γ射线），对Cs-137源为5.8Cps/μSv/h;
探测下限：对I-125是0.02微居;
6、效率（4π）：接触下：对Sr-90源约38%，C-14源约5.3%；P32源约33%；Co-60源约3%
7、外接G-M计数管探头,有效直径45mm,云母窗密度1.5-2.0mg/Cm3;
8、精度μSv/h：≤500μSv/h；范围时≤15%，在500-1000μSv/h范围≤20%；
CPS：≤2500 CPS范围时≤15%， 在2500-5000CPS范围≤20%；
9、测量单位：该检测仪常用单位（Mr/h或CPM）或SI单位（μSv/h或CPS）

测量范围：0.001-100mR/h
          0.01-1000μSv/h
          0-300000 CPM
          0-9999000总计数
精度：±15%
电源：9V层叠电池
外形尺寸：145×72×38mm
产地：美国